Список оборудования
| № | Название ▲ | Местонахождение | Описание | Дата выпуска | Ввод в эксплуатацию |
|---|---|---|---|---|---|
| 501 | Система нанесения матрицы для молекулярной гистологии MALDI-imaging Bruker ImagePrep | Василеостровская площадка 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб. д.7-9-11 литер "А", литер "Р" | [Информация на сайте центра](http://biomed.spbu.ru/equipment/list/bruker_imageprep.php) Средний размер формируемых капель составляет ~20 мкм Общий размер пятна < 50 мкм. Подробнее на сайте компании производителя http://www.bdal.com/ru/products/maldi/imageprep/overview.html | 01/10/2011 | 10/12/2012 |
| 502 | Система определения всасывающего давления грунтов Sdec VIND | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | - диапазон измерений: 0 - 999 ГПа - питание: 12 В - выходное напряжение 0-50 мВ - диапазон температур: -10 …+40˚C - время отклика: 1 мс - чувствительность: 0.1 мВ/мБар | 15/06/2012 | 01/03/2013 |
| 503 | Система очистки воды Milli-Q Academic (Millipore Corporate, США) | 198504, г. Санкт-Петербург, Старый Петергоф, Ораниенбаумское шоссе, дом 2, корпус 1 и 5 | Система очистки воды до получения деионизированной (10-15 Мом/см) ультрачистой воды (тип I) Возможна ультрафиолетовая обработка на длине волны 254 нм. Производительность составляет от 0,8 до 1,2 л в минуту. Встроенный резервуар объемом 6,5 л, микропроцессорный контроль. Предназначена для получения деионизированной ультрачистой воды, которая может быть использована при приготовлении растворов для спектрофотометрии, буферов для биохимических экспериментов, при подготовке микробиологических сред. | 02/06/2008 | 22/12/2008 |
| 504 | Система очистки воды Simplicity (Millipore) | Кафедра микробиологии | Компактная настольная система для получения сверхчис-той воды типа I из воды, прошедшей очистку обратным осмосом либо дистиллята | 01/06/2011 | 01/12/2011 |
| 505 | Система очистки воды Simplicity (Millipore) | Лаборатория микробиологии | Компактная настольная система для получения сверхчис-той воды типа I из воды, прошедшей очистку обратным осмосом либо дистиллята | 01/06/2011 | 01/12/2011 |
| 506 | Система очистки и нанесения покрытий на наноштампы Nanonex Ultra-100 | 198504 Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская д. 1, корп. "И", секции 4 и 5 | Система очистки и нанесения антифрикционных покрытий на наноштампы из молекулярного пара с УФ-озоновым очистителем. Максимальный размер образца - со стороной квадрата 200 мм. Максимальная мощность УФ-излучения - 200 Вт. | 01/12/2011 | 01/09/2012 |
| 507 | Система подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии Gatan PECS | Междисциплинарный ресурсный Центр по направлению «Нанотехнологии» | Травление поверхности ионным пучком (Ar). Нанесение проводящих покрытий распылением мишени ионным пучком(Ar). Энрегия ионов до 10 кэВ. Контроль толщины напыляемого покрытия с помощью кварцевых весов. Опция SlopeCut - возможность получения поперечного среза ионным пучком. | 10/01/2008 | 10/06/2008 |
| 508 | Система прецизионной подготовки образцов Fischione NanoMill | Междисциплинарный ресурсный Центр по направлению «Нанотехнологии» | Ионный источник (Ar), комбинированный с электронно-линзовой системой. Варьируемое напряжение 50 -2000 эВ Плотность тока пучка вплоть до 1мA/см2 Диаметр пучка менее 2 мкм Ток пучка в диапозоне 1-2000 пА Углы наклона образца в режиме просмотра СИМ -10 до +30 в режиме полировки -10 до +10 Режимы полировки Воздействие в точке Сканирование выбранной области Охлаждение Система позволяющая охлаждать образец до температуры -175oС Время охлаждения системы 20 минут Время охлаждения образца 5 минут Интегрированная печь обеспечивает быстрое нагревание образца до комнатной температуры Визуализация Детектор вторичных электронов позволяет регистрировать изображение в режиме ионного микроскопа | 10/10/2010 | 15/01/2011 |
| 509 | Система пульс-электрофореза BioRad CHIEF MAPPER | Василеостровская площадка 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб. д.7-9-11 литер "А", литер "Р" | [Информация на сайте центра](http://biomed.spbu.ru/equipment/list/biorad_chief_mapper.php) | 01/10/2011 | 10/12/2012 |
| 510 | Система резервного копирования | Ресурсный центр «Вычислительный центр СПбГУ» | Состоит из дисковой библиотеки HP D2D4106i Backup System на 6ТБ общего сырого объема данных). Система поддерживает эмуляцию виртуальных приводов и библиотек, таких как LTO- 2Ultrium Tape Drive / LTO-3 Ultrium Tape Drive / LTO-4 Ultrium Tape Drive / LTO-5 Ultrium Tape Drive,MSL2024 Tape Library, MSL4048 Tape Library, MSL8096 Tape Library. | 01/08/2011 | 31/12/2011 |
| 511 | Система снятия фоторезиста YES-G500-E | 198504 Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская д. 1, корп. "И", секции 4 и 5 | Система снятия фоторезиста. Диапазон температур подложки при обработке - 40-145 oC. | 01/11/2012 | 20/12/2012 |
| 512 | Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FIA , Нидерланды), на базе которой смонтирован аналитический комплекс Pegasus 4000 (EDAX, USA) | Ресурсный центр микроскопии и микроанализа | - | 31/12/2012 | 31/01/2012 |
| 513 | Система хранения данных (СХД) комплекса | Ресурсный центр «Вычислительный центр СПбГУ» | В состав СХД входят две подсистемы хранения НР-4500 и HP-4800. СХД HP StorageWorks P-4500 c емкостью(сырой) 384 ТБ с дисками по 2 ТБ SAS и 21, 6 ТБ с дисками SAS 450ГБ. Общая емкость HP- 4500 хранения 405,6 TB. СХД HP P-4800 подсистемой c 140 “быстрыми” дисками SAS 450ГБ и 4-мя контроллерами доступа HP StorageWorks P4800 10Гбит, устанавливаемые в шасси HP BladeSystem c7000. Подсистема хранения состоит из двух стоечных дисковых полок высокой плотности HP StorageWorks MDS 600. Каждая из них вмещает по 70 дисков 450ГБ 15К. Общая емкость составляет 63 ТБ. Подсистема обеспечения файлового доступа из 4-х контроллеров HP StorageWorks X9000 позволит организовать доступ пользователей по наиболее распространенным протоколам доступа ( CIFS, NFS, HTTP, FTP) через высокоскоростную сеть передачи данных QDR infiniband. | 01/08/2011 | 31/12/2011 |
| 514 | Система цифровой ПЦР в каплях BioRad dd-pcr | Петергофская площадка 198504, Санкт-Петербург, Петергоф, Ботаническая ул. 17 литер "А" | [Информация на сайте центра](http://biomed.spbu.ru/equipment/list/biorad_qx_100.php) Основные технические характеристики Стартовый объём образца, мкл 20 Ёмкость генератора капель QX100, образцов/картридж 8 Количество капель на образец 20 000 Производительность модуля чтения капель QX100, лунок/час 32 Освещение образца Светодиоды Детекция образца Фотоумножитель Каналы детекции FAM, VIC Линейный динамический диапазон 5 порядков Точность ±10% Количество капель на 96-луночный планшет, миллионов 1,4 Дополнительно: [Ссылка на сайт производителя](http://www.bio-rad.com/prd/ru/RU/adirect/biorad?ts=1&cmd=BRCatgProductDetail&vertical=LSR&catID=LSZ42515) | 23/06/2012 | 10/12/2012 |
| 515 | Сканер профессиональный Perfection 4870 Photo (Epson, Япония) | 198504, г. Санкт-Петербург, Старый Петергоф, Ораниенбаумское шоссе, дом 2, корпус 1 и 5 | Разрешение 4800х9600 dpi, помимо специального слайд-модуля и адаптора для сканирования пленок и фотопластинок, предусмотрены все возможные стандартные функции сканера (сканирование непрозрачных носителей, программное устранение дефектов изображения и копирование). Используется для сканирования фотоматериалов, в том числе фотопленок и фотопластинок, экспонированных в электронном микроскопе. | 05/06/2004 | 15/12/2004 |
| 516 | Сканирующий двухлучевой спектрофотометр UV-1800 Шимадзу | 198504, Санкт-Петербург,Петродворец, Университетский пр,26 Кафедра коллоидной химии, помещение 3182 | Cпектрофотометр обеспечивает измерение оптической плотности или пропускания на одной или нескольких (до 8) выбранных длинах в диапазоне 190 – 1100 нм; в следующих режимах: спектральный - сканирование по длине волны с возможностью последующей обработки спектра; кинетический - регистрация изменения поглощения, пропускания или энергии во времени; количественный - построение градуировочной кривой по одной или нескольким точкам и расчет уравнения 1-3 порядка по измеренным стандартам или введенным значениям. Длина оптического пути 10 мм. Ширина щели – 1 нм; уровень рассеянного излучения – не более 0.02% Т при длинах волн 220 нм и 340 нм; точность установки длины волны – 0,1 нм (при длине волны 656,1 нм. | 05/07/2012 | 15/10/2012 |
| 517 | Сканирующий двухлучевой спектрофотометр UV-1800 Шимадзу | 198504, Санкт-Петербург,Петродворец, Университетский пр,26 Кафедра коллоидной химии, помещение 3182 | Спектральный диапазон 190 – 1100 нм Обеспечивает следующие режимы работы фотометрический - измерение оптической плотности или пропускания на одной или нескольких (до 8) выбранных длинах волн; спектральный - сканирование по длине волны с возможностью последующей обработки спектра определение положения максимумов и минимумов, арифметические операции, расчет площади, сглаживание, производная с 1 до 4 порядка); кинетический - регистрация изменения поглощения, пропускания или энергии во времени, расчет величин ферментативной активности; количественный - построение градуировочной кривой по одной или нескольким точкам и расчет уравнения 1-3 порядка по измеренным стандартам или введенным значениям. многокомпонентный количественный анализ – одновременный количественный анализ до 8 компонентов. | 07/05/2012 | 16/10/2012 |
| 518 | Сканирующий емкостной микрозонд Кельвина, мод. SKP5050, KP Technology, Inc. | 198504 Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская д. 1, корп. "И", секции 4 и 5 | Два зондирующих электрода с диаметром головки 2 мм и 50 мкм соответственно; Разрешающая способность при измерении работы выхода 3 мВ при 2 –х миллиметровой головке; Область сканирования 50х50 мм; Позиционная точность 0,5 мкм; | 01/12/2011 | 01/12/2012 |
| 519 | Сканирующий зондовый микроскоп | Кафедра химии высокомолекулярных соединений | Зондовый микроскоп Veeco diNanoscope V предназначен для исследования плоских поверхностей, пленок, наночастиц на поверхностях с получением трехмерных изображений рельефа. Микроскоп позволяет выполнять исследования на воздухе и в жидкости в режиме СТМ и АСМ в контактном и tapping- режимах с возможностью выполнения ряд других АСМ-экспериментов. | 01/08/2007 | 17/11/2007 |
| 520 | Сканирующий зондовый микроскоп НТ-МДТ Интегра Максимус | 198504 Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская д. 1, корп. "И", секции 4 и 5 | Универсальный автоматизированный СЗМ комплекс. Сканирующая головка для работы в вакууме до 0,001 Торр и на воздухе. Размер области сканирования 100х100х10 мкм. | 01/12/2011 | 01/09/2012 |
| 521 | Сканирующий ионный гелиевый микроскоп Zeiss ORION c cистемой ионной литографии NanoMaker | Междисциплинарный ресурсный Центр по направлению «Нанотехнологии» | Основные параметры сканирующего ионного микроскопа Zeiss ORION: Ускоряющее напряжение 10-40кВ. Ток ионного пучка: 0,1-100 pA. Детектор вторичных электронов.Разрешение по резкости края: 0,6 нм Детектор обратно-рассеянных ионов. Система компенсации поверхностного заряда электронным пучком. Программно-аппаратный комплекс NanoMaker производства Interface Ltd., предназначенный для проектирования и создания структур методами ионной и электронной литографии. Система позволяет выполнять экспонирование резиста, распыление материала ионным пучком и захват изображения с микроскопа, компенсировать статические и динамические ошибки отклоняющих систем микроскопа. Программное обеспечение позволяет подготовить данные для экспонирования или импортировать данные из растрового изображения. | 30/03/2010 | 30/03/2010 |
| 522 | Сканирующий спектрофотометр - флуориметр Cary Eclipse (Varian Cary) | Василеостровская площадка 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб. д.7-9-11 литер "А", литер "Р" | [Информация на сайте центра](http://biomed.spbu.ru/equipment/list/cary_eclipse.php) | 01/10/2011 | 10/12/2012 |
| 523 | Сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N с аналитическими приставками: 1. анализа дифракции отраженных электронов EBSD - AzTec HKL Channel 5 Advanced 2. количественного энерго-дисперсионного микроанализа EDX - AzTec Energy 350 3. количественного волнового дисперсионного анализа WDS - INCA 500 4. Комплект стандартных образцов | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Разрешение 3.0 nm при 30kV, 10nm при 3kV; увеличение от 5 до 300000 крат, ускоряющее напряжение от 0,3 до 30 kV; максимальный диаметр образца – 200 мм; диапазон вакуума 6-270 Ра; диапазон вращения гониометра от -20° до + 90° | 10/08/2012 | 15/02/2013 |
| 524 | Сканирующий электронный микроскоп Tescan MIRA 3 LMU | Василеостровская площадка 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб. д.7-9-11 литер "А", литер "Р" | [Информация на сайте центра](http://biomed.spbu.ru/equipment/list/tescan_mira3_lmu.php) Основные технические характеристики Ускоряющее напряжение: от 200В до 30кВ с плавной регулировкой система подачи напряжения на образец для получения изображений высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях от 50В до 5кВ максимальное значение тока зонда – 200 нА Увеличение: От 4x до 1 000 000x Установленные детекторы: SE – детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли. Служит для получения изображений топографического контраста. R-BSE – выдвигаемый детектор отраженных электронов сцинцилляторного типа на основе высокочувствительного YAG кристалла с разрешением по атомному номеру 0.1Z. Служит для получения изображений композиционного контраста TE – детектор прошедших электронов для работы со стандартными образцами просвечивающей электронной микроскопии. Служит для реализации режима сканирующей просвечивающей электронной микроскопии. Малые значения ускоряющего напряжения позволяют получить для тонких срезов контрастное изображение без применения контрастирующих агентов LVSTD – детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли для режима низкого вакуума в камере. Служит для получения изображений топографического контраста в режиме низкого вакуума InBeamSE – детектор вторичных электронов встроенный в объективную линзу, для получения изображений топографического контраста при коротких фокусных расстояниях. Достижимое разрешение при 30 кВ - 1,0 нм Достижимое разрешение при 1 кВ - 2,0 нм InBeamBSE – детектор отраженных электронов встроенный в объективную линзу (совмещенный с InBeamSE). Служит для получения изображений композиционного контраста при коротких фокусных расстояниях Система энергодисперсионного микроанализа Advanced Aztec Energy(IE350)/ X-max80 с гарантированным спектральным разрешением на линии Mn Kα – 127 эВ. Камера образцов и столик: Оразцы диаметром до 145 мм Пятиосевой моторизованный столик: Оси X,Y – 80 x 60 мм Ось Z – 47 мм наклон в диапазоне - от -80° до +80° вращение 360° Дополнительно: Инфракрасная телекамера для обзора камеры образцов с возможностью цифрового увеличения Датчик касания образца Выносная панель управления для быстрого управления основными параметрами (увеличение, фокус, перемещение). Дале см. на сайте хhttp://biomed.spbu.ru/equipment/list/tescan_mira3_lmu.phpъ(http://biomed.spbu.ru/equipment/list/tescan_mira3_lmu.php) | 10/12/2011 | 09/07/2012 |
| 525 | Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Merlin. | Междисциплинарный ресурсный Центр по направлению «Нанотехнологии» | Сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом, колонной электронной оптики GEMINI-II и безмаслянной вакуумной системой Основные характеристики микроскопа: Пространственное разрешение (предельное) при ускоряющем напряжении 15 кВ Ток пучка Разрешение 40 нА 0,8 нм 100 нА 0,8 нм 300 нА 1.0 нм Характеристики источника Диапазон токов пучка 10пA - 300нA Стабильность тока пучка лучше чем 0,2% / час Стандартные детекторы Внутрилинзовый детектор вторичных электронов (In-lens SE) Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SE2) Детектор обратно-рассеянных электронов с фильтрацией по энергиям (EsB). Четырехквадрантный детектор обратно-рассеянных электронов (AsB) Моторизованный пятиосевой (Klein MK5) Помимо детекторов вторичных электронов In-lens SE и SE2, микроскоп оснащен четырехквадрантным детектором обратно-рассеянных электронов (AsB) и детектором обратно-рассеянных электронов с фильтрацией по энергиям (EsB). Аналитические возможности микроскопа расширены дополнительными приставками для рентгеновского микроанализа Oxford Instruments INCAx-act и системой регистрации дифракции обратнорассеянных электронов (EBSD) Oxford Instruments CHANNEL5. | 30/03/2011 | 30/03/2011 |
| 526 | Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 40VP | Междисциплинарный ресурсный Центр по направлению «Нанотехнологии» | Основные характеристики микроскопа: Пространственное разрешение (предельное) Ускоряющее напряжение Разрешение 200 В 5 нм 1 кВ 2.1 нм 15 кВ 1.3 нм Характеристики источника Диапазон токов пучка 4пA - 40 нA Стабильность тока пучка лучше чем 0,2% / час Вакуумные режимы Высокий вакуум в камере (HV) 5x10-7торр Контролируемый низкий вакуум в камере(VP) 1 Па - 144 Па Стандартные детекторы Внутрилинзовый детектор вторичных электронов (In-lens SE) Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SE2) Детектор вторичных электронов для режима низкого вакуума в камере (VPSE) Четырехквадрантный детектор обратнорассеянных электронов (AsB) Немоторизованный трехосевой криостол с возможностью контроля температуры в диапазоне 6-300К. Аналитические возможности микроскопа расширены системой регистрации катодолюминесценции Gatan MonoCL3+ и системой регистрации токов наведенных электронным лучом (EBIC) Gatan SmartEBIC. Регистрация катодолюминесценции в видимом и ИК-диапазоне. | 25/12/2007 | 30/03/2008 |
| 527 | Солемер рефрактометрический RHS-10ATC | 199178, Санкт-Петербург, 10 линия В.О. 33/35 факультет географии и геоэкологии • Лидарный комплекс: помещения 419, 438 – астрономическая башня • Биоэлектронный комплекс: помещения 68, 69 • Химико-аналитический комплекс: помещения 185-187 | Точность измерения не хуже 0,5 промилле | 18/12/2009 | 25/12/2013 |
| 528 | Солнечный автоматический фотометр Cimel Electronique, модель CE 318N-EDPS9-Dual-Polarization. | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Диапазон измерений 440-1020 нм. Оборудован системой автоматического слежения за Солнцем и сканирования небосвода (погрешность не более 0.1град). | 05/06/2012 | 17/12/2012 |
| 529 | Сорбционный гравиметрический анализатор TGA Q5000SA (TA Instruments, США) | 198504, Санкт-Петербург, Петродворец, Университетский пр., 26, Химический факультет, каб. 2194. | Температурный диапазон от 5 до 85°С. Динамический диапазон измерения массы 100 мг. Чувствительность весов 0,1 мкг. Воспроизводимость взвешивания не более 0,01%. Дрейф базовой линии не более 5 мкг/24 часа Диапазон контролируемой относительной влажности от 0 до 98% с точностью 1%. Объем тигля 180 мкл. | 01/06/2012 | 15/05/2013 |
| 530 | Софтбокс RAYLAB серии Ultra 120x120 см | В.О., 10 линия, д.49, ауд.204 | Софтбокс RAYLAB серии Ultra 120x120 см. Рассеиватель для импульсных осветителей с креплением типа Bowens. | 01/01/2012 | 20/01/2013 |
| 531 | Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс 1891 САГ | Ресурсный центр «Центр инновационных технологий композитных наноматериалов» | 1.Спектральный диапазон для определения оптических характеристик и толщин пленок: от 350 до 1000 нм. 2.Спектральное разрешение: 2,5 нм. 3.Диапазон измеряемых толщин: 20000 нм. 4.Погрешность измерения толщин: не более 0,3 нм. 5.Погрешность измерения коэффициента преломления: не более 0,01 6.Время единичного измерения: 1мс/точка. 7.Изменение углов падения (фиксировано): в диапазоне от 45 до 70º (через 5º) и 90º 8.Пределы перемещения предметного столика: по двум координатам в диапазоне: от 0 до 25 мм вертикальное перемещение в диапазоне: от 0 до 20 мм 9.Диаметр светового луча 3 мм. | 28/02/2012 | 02/11/2012 |
| 532 | Спектроанализатор Tektronix RSA5103A | 198504 Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская д. 1, корп. "И", секции 4 и 5 | Aнализатор спектра. Диапазон частот - 1 Гц - 3 ГГц. Ширина полосы захвата - 80 МГц. | 01/12/2011 | 01/05/2012 |
| 533 | Спектрометр SPECTROstar Nano. | Лаборатория биохимии нервной системы и обмена веществ | Спектрометр SPECTROstar Nano, (220-1000 нм, микропланшеты до 384 лунок, кюветный блок) Диапазон измерения 0-4 единиц плотности Точность измерения в диапазоне 0-2 ед. плотности не более 1,5% Воспроизводимость в диапазоне 0-2 ед. плотности не более 1% Возможность работы с 1536-луноными микропланшетами Бортовой инкубатор Рабочий диапазон температур, не уже чем 3°С выше комнатной - 40°С | 28/04/2011 | 20/10/2011 |
| 534 | Спектрометр КРС исследовательского класса T64000 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | Три монохроматора с фокальным расстоянием 0.64 м. Нижний предел определяемых сдвигов: 2 - 5 см-1 (вычитание дисперсии). Фильтрация рассеянного Релеевского света: 10-14 при 20 см-1 (512 нм). Приставка: Микро-Раман. | 10/02/2011 | 30/12/2012 |
| 535 | Спектрометр СПЕКТРОСКАН макс-G с прессом | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Диапазон определяемых элементов – от Na до U; предел обнаружения от 10–4 до 10–2 % ; время определения одного элемента от 10 до 200 сек.; собственная аппаратурная погрешность < 0,5% | 10/09/2011 | 27/09/2012 |
| 536 | Спектрометр проходящих электронов с трохоидальным монохроматором (Electron Transmission Spectrometer). | Лаборатория электроники поверхности твердого тела | Указанный прибор имеет оригинальную конструкцию [Н.Л. Асфандиаров, С.А. Пшеничнюк, В.С. Фалько, Г.С. Ломакин, Спектрометр проходящих электронов с трохоидальным монохроматором, Приборы и техника эксперимента, № 1 (2013) с. 86-89] и использует трохоидальный монохроматор энергии электронов (Trochoidal Electron Monochromator). Квазимонохроматический пучок электронов пропускается через ячейку столкновений, заполненную газом исследуемого вещества. Для детектирования слабых сигналов, в частности, резонансов с малой полушириной, используется техника синхронного детектирования (регистрация первой производной тока прошедших электронов по их энергии). Полуширина распределение электронов по энергии в зондирующем пучке оценивается величиной 50 мэВ. Шкала энергии электронов калибруется по (1s12s2) 2S состоянию отрицательного иона гелия. | 01/02/2011 | 31/12/2012 |
| 537 | Спектроскопический комплекс | Междисциплинарная лаборатория им. Уральцева | Непрерывный титан-сапфировый лазер Лазер ТиДи-скан Х1 производства Техно-скан, г. Новосибирск. Область спектральной перестройки 750 - 950 нм, спектральная ширина линии излучения - 5 МГц; Криостат Cold Edge SRDK; Лазер накачки Sprout-G-6W TEMoo at 532nm, DPSS, Lighthouse Photonics, Inc., TEMoo at 532nm, DPSS; Осциллограф Tektronix TPS 2024; Локин-усилитель 7230, Signal Recovery; Вакуумная система, Pfeiffer; Принтер лазерный цветной HP LaserJet Pro 400 Color MFP M475dw (CE864A) WiFi; Ноутбук Asus ZENBOOK UX31A Intel Core i5-3317U 4Gb HDD 128GB (2шт) | 01/07/2012 | 15/10/2012 |
| 538 | Спектрофлуориметр Lumina | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | Спектральный диапазон 200–900 нм; Источник света: импульсная ксеноновая лампа: Временное разрешение: до 1 мкс; Максимальная скорость сканирования 10 000 нм/мин. | 15/01/2011 | 30/11/2011 |
| 539 | Спектрофотометр | Ресурсный центр «Обсерватория экологической безопасности» | Спектральный диапазон в диапазонеот 190 до 1100 нм Оптическая схема – Однолучевая Точность отображения длины волны шаг 0,1 нм Точность установки длины волны 0,1 нм Погрешность установки длины волны ± 1,0 нм Воспроизводимость длины волны ± 0,3 нм | 19/03/2010 | 25/12/2013 |
| 540 | Спектрофотометр "UV-2550PC" Shimadzu | 198504, Санкт-Петербург, Петродворец, Университетский пр., 26, Корпус Д1, 1 этаж | • Двойной монохроматор; • Диапазон: 190-900нм; • Разрешение: 0.1нм; • Ширина щели: 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5нм; • Воспроизводимость : ±0.1нм; • Точность : ±0.3нм; • Рассеяние пучка: менее 0.0003% при 220нм и 340нм; • Фотометрические режимы: поглощение, пропускание, отражение, энергия; • Интегрирующая сфера ISR-3100 (с ФЭУ и ячейкой PbS): Диапазон: 220-2600 нм; Внутренний диаметр – 60 мм; Угол падения - 0°/8°. | 01/09/2011 | 15/11/2012 |
| 541 | Спектрофотометр BioSpec Mini (Shimadzu, Япония) | 198504, г. Санкт-Петербург, Старый Петергоф, Ораниенбаумское шоссе, дом 2, корпус 1 и 5 | Однолучевой прибор, оснащен встроенными процессором, клавиатурой, ж/к дисплеем. Спектральный диапазон 190-1110 нм, ширина спектральной полосы 5 нм. Предназначен для анализа концентрации и качества ДНК, РНК, олигонуклеотидов и белков, а также мониторинга роста клеточных культур и сканирования в заданном спектральном диапазоне с детекцией пика поглощения. | 10/01/2005 | 01/06/2005 |
| 542 | Спектрофотометр Genesys 10S UV-VIS (Thermo Scientific) | Лаборатория № 2185 | Спектрофотометр работающий в УФ и видимой областях спектра. Двулучевой, 190-1100 нм, 6/1-позиционный, Диапазон длин волн, нм — 190 — 1100 | 17/01/2010 | 17/02/2011 |
| 543 | Спектрофотометр Lambda 1050 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | Спектральный диапазон 175-3300 нм; 2-3 детектора; диапазон измерений оптической плотности – 0-8А; фотометрическая точность и фотометри-ческая воспроизводи-мость не хуже 0.0003A при А=1; разрешающая способность не меньше 0,05 нм в УФ- и видимом диапазоне. Приставки для регистрации спектров диффузного отражения (интегрирующая сфера: d=150мм, спектральный диапазон: 200 – 2500 нм) и для регистрации спектров зеркального отражения под разными углами. | 10/01/2011 | 30/11/2012 |
| 544 | Спектрофотометр NanoDrop ND-1000c с кюветным модулем (ThermoScientific) | Лаборатория биохимической генетики | Спектрофотометр включает термостатируемый кюветный модуль с функцией перемешивания для измерения кинетики ферментативных реакций и бескюветный модуль для определения концентрации образцов ДНК, РНК, белков; для оценки плотности клеточных культур бактерий и дрожжей. Кюветный модуль обеспечивает подогрев до 37С, перемешивание 150-850 rpm, длину прохождения светового луча 10, 5, 2, 1 мм, работает в диапазоне абсорбции 0,008-1,5, предел детекции 0,4 нг/мкл (dsDNA), макс. концентрация 750 нг/мкл, время измерения 3 сек. Размер кюветы 12.5мм х 12.5мм х 48 мм. | 08/08/2011 | 27/10/2011 |
| 545 | Спектрофотометр UV-1800 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Двухлучевой сканирующий спектрофотометр сочетает в себе превосходные оптические характеристики, компактность, простоту управления, экономичность и современный дизайн. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 546 | Спектрофотометр автоматический Epoch для микропланшет. | Лаборатория биофармакологии и иммунологии насекомых | Спектрофотометр автоматический Epoch многофункциональный. 1- канальный - производства BioTek (США). Предназначен для работы с 6, 12, 48 96-луночными планшетами, кварцевыми кюветами BioCell и стандартными кюветами. Спектральный диапазон 200 - 999 нм, Динамический диапазон 0.000 - 4.000 ед. ОП - 1 шт (в соответствие со спецификацией). Программное обеспечение Gen5 на русском языке для управления прибором и обсчета полученных данных. | 04/04/2011 | 11/07/2012 |
| 547 | Спектрофотометр двулучевой Specord 210 PLUS | Лаборатория адаптации микроорганизмов | Спектрофотометр Specord 210 PLUS предназначен для работы в диапазоне длин волн 190-1100 нм с 8- типозиционным устройством для смены кювет и программным модулем к базовому ПО для осуществления кинетических измерений и обработки полученных данных. | 01/10/2011 | 10/02/2012 |
| 548 | Специализированная вакуумная установка | Лаборатория газовой динамики | Установка состоит из двух вакуумных бустерных промасленных насосов НВБМ-400 и блока управления откачкой АВ2107. | 30/09/2012 | 15/04/2013 |
| 549 | Специализированный пакет для трёхмерной морфометрии и подготовке результатов к публикации Bitplane Imaris | Василеостровская площадка 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб. д.7-9-11 литер "А", литер "Р" | [Информация на сайте центра](http://biomed.spbu.ru/equipment/list/bitplane_imaris.php) | 01/11/2011 | 01/09/2012 |
| 550 | Спиннер-магнитометр JR-6A | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Чувствительность: 2 x 10-6A/м; Динамический диапазон: до 12500 A/м. | 05/08/2012 | 29/12/2012 |