| № |
Название ▲ |
Местонахождение |
Описание |
Дата выпуска |
Ввод в эксплуатацию |
|---|
| 701 | Энергодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометр EDX-800P производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Спектрометр EDX-800P предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава (от C6 до U92) твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. Большая камера позволяет проводить измерения образцов диаметром до300 мм и высотой до150 мм. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях). Пять типов первичных фильтров дают возможность снизить влияние фона и значительно улучшить пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.
Благодаря программному обеспечению спектрометра возможно определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий., а использование метода фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы. Кроме того, существует возможность коррекции на интенсивность, энергию, полуширину пика. Программа сопоставления состава (интенсивность/содержание) использует библиотеки данных и исключает необходимость наличия стандартных образцов для количественного анализа. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 702 | Энергодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометр XRF-1800 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Спектрометр XRF-1800 позволяет проводить качественный и количественный анализ элементного состава образца в диапазоне от бериллия Be4 по уран U92 всего за 2,5 минуты. Максимальные размеры исследуемого образца –51 мм в диаметре и 38 мм в высоту. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов). Кроме стандартного анализа элементного состава возможно также проведение картирования распределения элементов с шагом 250 мкм и локального анализа в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры.
Программное обеспечение спектрометра позволяет проводить качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков. Кроме того, существует возможность определения толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния, и определения толщины и элементного состава неорганических покрытий. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 703 | ЯМР Релаксометр "ЭХО-12" | Кафедра квантовых магнитных явлений | Прибор ЭХО-12 представляет собой импульсный ЯМР релаксометр с дополнительными модулями для термостатирования образцов и градиентной системой позволяющей измерять коэффициенты диффузии. Постоянное магнитное поле 0,5 Т создаётся постоянным магнитом с зазором между полюсами примерно 3 см. В 2009 году были проведены мероприятия по автоматизации данного прибора. Все измерения проводятся при помощи разработанного на кафедре программно-аппаратного интерфейса (ПАИ) "ЭхоСкаН" имеющего встроенное мат. обеспечение для расчёта искомых параметров, как то времена релаксации, коэффициенты диффузии. | 01/01/1973 | 01/01/1973 |
| 704 | рH - метр Toledo GMbH | 198504, г. Санкт-Петербург, Старый Петергоф, Ораниенбаумское шоссе, дом 2, корпус 1 и 5 | pH-метр в комплекте со штативом и комбинированным электродом PY-P11
Диапазон измерения ед. рН от 0 до 14
Диапазон измерения температуры, °С от -5 до 105 | 05/07/2006 | 13/07/2006 |
