Список оборудования

Описание:
Назначение:
Записей на странице:

№ Название Местонахождение Описание Дата выпуска Ввод в эксплуатацию ▲
501Измеритель магнитного вакуума Model 520AРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Измерения могут проводиться в четырех диапазонах: 1000 мГс, 100 мГс, 10 мГс и 1 мГс; Разрешение по магнитному полю: 10-10Тл (1 мкГс); Температурный дрейф: не более 10-5 Гс/°C; Отклонение от ортогональности между осями: не более 0.2°; Отклонение от ортогональности между осями и плоскостью размещения зонда: не более 0.2°.10/03/201224/12/2012
502Photocor Compact-Z198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУПрибор для определения размеров и дзета-потенциала частиц, коэффициента диффузии и молукулярного веса методом динамического рассеяния света. Возможность проведения абсолютных измерений без предварительной калибровки. Размер частиц от 0,5 до 6 мкм. Погрешность измерения до 1%. Объем образца от 10 мкл до 10 мл. Термостабилизированный диодный лазер с длиной волны от 630 до 660 нм. Термостат 5-100 С.01/10/201225/12/2012
503Термомагнитометр трехкомпонентныйРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Чувствительность по магнитному моменту 10-8 Ам2; Диапазон магнитных полей 0-320 А/m; Диапазон температур 25-750°C.08/07/201225/12/2012
504Аналитические весы XA 52/YРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Предельная нагрузка: 52 г; Дискретность отсчитывания массы: 10 мкг; Платформа диаметром 85 мм; Класс точности: I.05/03/201225/12/2012
505Портативный измеритель магнитного поля Bartington MAG-03Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Диапазон магнитных полей: ± 100 мкТл; Ошибка смещения: не более 5 нТл; Масштабный коэффициент по магнитному полю: не менее 100 мВ/мкТл; Температурный коэффициент смещения: не более 0,1(нТл/°C); Погрешности ортогональности и ориентирования (Ось Z к стандартной плоскости): не более 0.1 градуса; Частотная характеристика от 0 до 1 кГц максимально плоская, максимальное допустимое отклонение не более 5% при 1 кГц; Диапазон рабочих температур: от -40°C до +70°C.24/03/201225/12/2012
506Портативный протонный магнитометр МИНИМАГ-мРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Диапазон измерения модуля магнитной индукции: 20 – 100 мкТл; Нестабильность показаний во времени за 8 часов непрерывной работы: не более 0,2 нТл; Диапазоне рабочих температур: от -20°С до +50°С; Изменение показаний магнитометра в диапазоне рабочих температур: не более 0,5 нТл.10/05/201225/12/2012
507PPMS-9 + EverCool-II фирмы QUANTUM DESIGNE198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУКомплекс измерения физических свойств материалов в широком диапазоне магнитных полей и температур с бескриогенной системой ожижения гелия. В комплекс входят системы для измерения физических величин: а) Намагниченность; б) Магнитная восприимчивость (чувствительность 2·10¯8 э.м.е.); в) Теплоёмкость. Метод измерения - гибридная адиабатическая релаксация, разрешающая способность 10 нДж/К г) Теплопроводность. Диапазон измерений от 10 мкВт/К до 100 мВт/К, погрешность 5 %. д) Коэффициент Зеебека. е) Термоэлектрический показатель качества. ж) Электрическое сопротивление на переменном токе (также измерения коэффициента Холла).Погрешность 0,2 % (0,03 % для сопротивлений меньше 100 Ом). Чувствительность к изменению сопротивления 1 нОм. з) Электрическое сопротивление на постоянном токе. и) Электрическое сопротивление образцов со сверхвысоким сопротивлением - до 5 ГОм. Напряженность магнитного поля до 9 Тесла. Температура образца 1,9-400 К.01/11/201225/12/2012
508NOVOCONTRAL BDS198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУСистема анализа диэлектрических свойств материалов широкополосная. Блок ALPHA-ANB: Диапазон частот 3 мкГц - 20 МГц. Фазовое разрешение 0,001 градуса. Активная ячейка ZGS: емкостной диапазон от 1 фемтоФ до 1 Ф, частота до 40 МГц. Импедансный анализатор E4991A с частотным диапазоном от 1 МГц до 3 ГГц, импедансный диапазон от 0,1 Ом до 100 кОм. Температурный диапазон измерений от -160 ºС до 400 ºС.01/10/201225/12/2012
509NTEGRA Spectra Raman198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ"Прибор представляет собой комбинацию зондового и спектрального модуля, обеспечивающих одновременную работу применительно к исследуемому образцу и интегрированной системой ближнепольной оптической микроскопии. Прибор оснащен 2 лазерами возбуждения КР с длинами волн видимого диапазона, системой записи спектров КР в видимом диапазоне. Поддерживаемые методики: 1)Конфокальная Рамановская микроскопия 2) TERS (Рамановская микроскопия с АСМ зондом) 2)Конфокальная флюоресцентная микроскопия 3)Конфокальная лазерная микроскопия (отражение, пропускание) 4)Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия "01/10/201225/12/2012
510Установка для температурного размагничивания TD-48-SCРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Температурный диапазон: 25 - 800°C; Абсолютная погрешность по температуре: не более 10°C; Погрешность воспроизведения температуры в последовательных нагревах: не более 1°C; Максимальный температурный градиент: не более 10°C в области размещения образцов при полной загрузке печи, не более 3°C при загрузке образцами лишь центральной части печи; Постоянное магнитное поле в области размещения образцов: не более 10 нТл в случае, если система ориентирована в направлении восток-запад; Время нагрева: 48 образцов от 25°C до 600°C в течение 45 минут; Время охлаждения: 48 образцов от 600 до 40°C в течение 20 минут.01/06/201225/12/2012
511Photocor Complex198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУФотонный корреляционный спектрометр. Установка для измерения динамического и статического рассеяния света в растворах полимеров. Размер частиц: от 0.5 нм до 6 мкм (зависит от оптических характеристик исследуемых образцов). Коэффициент диффузии: 10-5 ... 10-10 см2/с; Молекулярный вес: 103 ... 1012 г/моль. Типичная погрешность ±1%. Объем образца от 10 мкл до 10 мл.01/10/201225/12/2012
512AMVn Anton Paar198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУВысокоточный автоматический микровискозиметр, основанный на методе Стокса. Диапазон температур 10 - 100 С. Возможность проведения измерений в непрозрачных жидкостях. Объем образца от 150 мкл. Вязкость от 0,3 до 2500 мПа/c.01/10/201225/12/2012
513DMA 5000 М Anton Paar198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУЛабораторный высокоточный плотномер, объём образца от 1 мл. Точность 5*10-6 г/см3. Диапазон измерений от 0 до 3 г/см3. Температура 0 - 90 С, точность измерения температуры 0,01 градуса. Давление 0 - 10 атм.01/10/201225/12/2012
514SNAP RITEC inc.198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУУльтразвуковой измерительный комплекс на базе системы SNAP. Двухканальный импульсный источник. Выходная мощность 5 кВт. Диапазон частот 0,25-7 МГц.01/10/201225/12/2012
515Quadrasorb Sl198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУКомплекс для анализа удельной поверхности и размеров пор. Рабочий вакуум 0,13 Па, максимальный вакуум 10-9 torr. Диапазон площади поверхности 0,01 квадратных метров на грамм в случае измерений с азотом, 0,0005 квадратных метров на грамм для измерений с криптоном. Погрешность менее 0,15 от полной шкалы.01/10/201225/12/2012
516Установка для нанесения покрытий методом распыления раствора WS-650Mz-23NPPРесурсный центр «Центр инновационных технологий композитных наноматериалов»1.Камера прибора изготовлена из материала выдерживающего длительное воздействие минеральных кислот, щелочей и спиртов. 2.Возможность обработки образцов размером от 3 мм до пластин диаметром 150 мм (с соответствующими держателями). 3.Максимальная скорость вращения 12000 об/с. 4.Прибор снабжён автоматизированной системой подачи раствора на вращающуюся пластину. 5.Камера снабжена защитной крышкой с датчиком открытия. 6.Питание электрооборудования прибора должно осуществляться напряжением 220 ± 15 В с частотой 50 Гц.11/03/201225/12/2012
517Осциллограф сверхскоростной четырехканальный цифровой TDS 5104B производства Tektronix Inc.Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Обеспечивает максимальную скорость дискретизации в режиме реального времени 5 ГГц при полосе пропускания 1 ГГц. Допускает широкий набор типов синхронизации.05/08/201225/12/2012
518Ультрабыстрая камера (система регистрации изображений) PicoStar HR производства LaVisionРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Система регистрации изображений состоит из одноуровневого усилителя изображений на основе микроканальных пластин, CCD видеокамеры, платы генератора задержек, генератора импульсов, платы синхронизации, персонального компьютера на базе рабочей станции.05/08/201225/12/2012
519Beckman Coulter Inc. ProteomeLabXL-1198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУАналитическая ультрацентрифуга. Скорость вращения ротора 50 000 об/мин, максимальное ускорение 200 000 g. Точность контроля скорости 20 об/мин. Оптическая система для измерения поглощения в УФ и видимом диапазоне.01/10/201225/12/2012
520MPMS SQUID VSM фирмы QUANTUM DESIGNE198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУКомплекс измерения магнитных свойств на основе сквид-вибрационного магнитометра. Амплитуда привода 0,1-8 мм. Внутренний диаметр камеры образца 9мм. Напряженность магнитного поля 7 Тесла. Стабильность поля 1 ppm/час. Диапазон температур образца 1,8-1000 К. Скорость линейного изменения магнитного поля от 4 до 700 Э/с. Чувствительность измерения намагниченности 10¯8 э.м.е.01/11/201225/12/2012
521Установка для размагничивания переменным полем LDA- 3A AF с приставкой для создания идеальной намагниченности AMU-1АРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Максимальное размагничивающее поле: 1 - 100 мТл; Три различных режима уменьшения размагничивающего поля; Время, необходимое для размагничивания в номинальном поле: не более 2 мин; Создание идеальной намагниченности: Максимальное переменное поле 100 мТл; Постоянное поле: от 0 до 500 мкТл.13/05/201228/12/2012
522Спиннер-магнитометр JR-6AРесурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Чувствительность: 2 x 10-6A/м; Динамический диапазон: до 12500 A/м.05/08/201229/12/2012
523СКВИД-магнитометр SRM-755Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Чувствительность по магнитному моменту: 5 x 10-12Aм2; Динамический диапазон: от 1 x 10-12 до 2 x 10-4 Aм2; Максимальное размагничивающее поле: 160 мТл; Максимальное поле импульсного намагничивания (для создания изотермической остаточной намагниченности): 1 Тл.10/08/201229/12/2012
524Измеритель мощности сигналов USB мод. ST 265 SMA производства Satory Technology Inc.Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)»Измерения мощности в диапазоне от -50 до +20 дБм сигналов частот от 10 МГц до 26,5 ГГц.05/08/201229/12/2012
525Лазер твердотельный с модуляцией добротности Matrix 355Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»355 нм, 1 Вт, 25 нс, <100 кГц.07/08/201130/12/2012
526Центрифуга 5430R с тремя роторами199178, СПб, Васильевский остров, 14ая линия, литер А, группа структуры и функции клеточного ядра, кафедра цитологии и гистологииЦентрифуги 5430R с функцией охлаждения на 30 мест. Три различных ротора для пробирок объёмом 1,5, 15 и 50 мл, микропланшеты. Возможность центрифугирования всех используемых форматов реакционных сосудов. Высокая скорость центрифугирования до 30.130 x g (17.500 об/мин) Многоязычное управление посредством меню (английский, немецкий, французский, испанский) и большой ЖК-дисплей с подсветкой для удобства в обращении. Сохранение в памяти более 50 программ с названиями каждой программы 5 клавиш программирования обеспечивают удобный и быстрый доступ к повседневным программам Автоматическое распознавание ротора с функцией ограничения скорости вращения Автоматическое распознавание дисбаланса A-2-MTP Колебательный ротор для плашек микротитрования или ПЦР30/12/201130/12/2012
527Твердотельный импульсный Nd:YAG лазер с ламповой накачкой SpitLight 2000-50Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»1064 нм, 50 Гц, 8 нс длительность импульса, 1.1 Дж.08/10/201130/12/2012
528Непрерывный одночастотный перестраиваемый лазер на кристалле титан-сапфира MBR-110 с лазером накачки Verdi G5Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»700-1030 нм, ширина линии <75 кГц. Лазер накачки с райзером и чиллером. CW. 532 нм, 5Вт.01/09/201130/12/2012
529Лазерный комплекс в составе: - Mira Optima 900-D (2 шт.); - Verdi V10 (2 шт.); - Pulse Switch (2 шт.); - Mira SPO-I (2 шт.); - SHG (2 шт.); - Mira OPO (2 шт.); - Synchro-Lock AP (1 шт.)Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»Ультрабыстрый фемтосекундный/ пикосекундный лазер Ti:Sapphire. 700-980 нм, <3 пс, <200 фс, 76 МГц, TEM00. Лазер Nd:АИГ 532 нм, 10 Вт, CW, стабильность по мощности 1 %, шум <0.02. Акусто-оптический модулятор. 200 Гц - 9 МГц (для фемтосекундной конфигурации), 200 Гц - 4 МГц (для пикосекундной конфигурации), 710-990 нм. Компрессор. Рабочий диапазон 700-900 нм, 70 фс. Генератор второй гармоники 340-540 нм. Оптический параметрический преобразователь, 76 Мгц, 1100-1600 нм. Синхронизатор. <250 фс, <250 пс.01/09/201130/12/2012
530Спектрометр КРС исследовательского класса T64000Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»Три монохроматора с фокальным расстоянием 0.64 м. Нижний предел определяемых сдвигов: 2 - 5 см-1 (вычитание дисперсии). Фильтрация рассеянного Релеевского света: 10-14 при 20 см-1 (512 нм). Приставка: Микро-Раман.10/02/201130/12/2012
531Автосканируемая лазерная система TiDi-ScanРесурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»275-1100 нм. CW. Лазер Nd:АИГ 532 нм, 10 Вт, CW, стабильность по мощности 1 %, шум <0.02.15/10/201130/12/2012
532Лазер Verdi V2Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»532 нм, 2 Вт, стабильность по мощности 1 %, шум <0.02.01/09/201130/12/2012
533Монолитный одночастотный блочный удвоитель MBD 266Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества»266 нм. > 200 мВт, CW.10/09/201130/12/2012
534Ламинарный шкаф Safe Fast EliteРесурсный центр «Культивирование микроорганизмов»Ламинарный шкаф IIA (70% рециркуляция) ,SafeFAST Elite 212S рабочая поверхность 1194см, УФлампа, подставка (800-900мм), 2 розетки (1 доп вкл), два крана (gas, manual) Iso3, H1431/08/201131/12/2012
535ИК-ФУРЬЕ СПЕКТРОФОТОМЕТР IRPrestige-21 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Спектральный диапазон 7800 - 350 cм -1 (стандарт), 12500 – 240 cм -1 (доп.) Разрешение 0,5; 1; 2; 4; 8; 16 cм -1 для MIR и FIR 2; 4; 8; 16 cм -1 для NIR Скорость перемещения зеркала 3-х ступенчатая: 2,8 мм/сек; 5 мм/сек; 9 мм/сек Соотношение сигнал/шум > 40 000:1 (4 cм -1, 1 мин, 2100 cм -1, пик к пику)01/01/201231/12/2012
536Лазерный анализатор размеров наночастиц IG – 1000 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Диапазон измерения от 0,5 до 200 нм01/01/201231/12/2012
537Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц SALD-2201 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Диапазон измерения от 0,03 до 1000 микрон.01/01/201231/12/2012
538СПЕКТРОФОТОМЕТР UV-3600 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Прибор предназначен для регистрации спектров поглощения, пропускания и отражения различных образцов в широкой спектральной области 185-3300 нм. Для обеспечения максимальной чувствительности во всем спектральном диапазоне используются три детектора: ФЭУ, InGaAs и PbS.01/01/201231/12/2012
539Растровый электронный микроскоп-микроанализатор SEM -501 B (Philips, Нидерланды) со смонтированным на его базе рентгено-спектральным аналитическим комплексом WEDAX-2A (EDAX, MICROSPEC, USA).Ресурсный центр микроскопии и микроанализа-31/12/201231/12/2012
540ИК-ФУРЬЕ спектрометр IRAffinity-1 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Спектральный диапазон 7800 - 350 cм -1 Разрешение 0,5; 1; 2; 4; 8; 16 cм -1 Скорость перемещения зеркала 4-х ступенчатая: 2,0 мм/сек; 2,8 мм/сек; 5 мм/сек; 9 мм/сек Соотношение сигнал/шум > 30 000:1 (для KRS-5, 4 cм-1 , 1 мин, 2100 cм-1, пик к пику)01/01/201231/12/2012
541УВЭЖХ система LC-30 «Nexera» производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Ресурсный центр укомплектован приборами в следующих комплектациях: 1. с тройным квадрупольным масс-селективным детектором LCMS-8030. 2. с детектором диодная матрица SPD-M20A и автодозатором с охлаждением SIL-30AC.01/01/201231/12/2012
542ВЭЖХ система LC-20 «Prominence» производства Шимадзу.Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества»Ресурсный центр укомплектован приборами в следующих комплектациях: 1. с кондуктометрическим детектором СDD-10A, фирмы 2. с флюориметрическим детектором RF-20A и низкотемпературным детектором по светорассеиванию ELSD II. 3. с дифференциальным рефрактометрическим детектором RID-10A. 4. с детектором диодная матрица SPD-M20A. 5. со спектрофотометрическим детектором SPD-20A и автодозатором SIL-20A.01/01/201231/12/2012
543Спектрофотометр UV-1800 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Двухлучевой сканирующий спектрофотометр сочетает в себе превосходные оптические характеристики, компактность, простоту управления, экономичность и современный дизайн.01/01/201231/12/2012
544Оптический эмиссионный спектрометр ICPE-9000 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»-31/12/201231/12/2012
545Атомно-абсорбционный спектрометр АА-7000 производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Спектральный диапазон 185-900 нм. Трехмерная, двулучевая оптическая схема с использованием цифрового оптического фильтра и элементов, сокращающих потери излучения. Автоматическая смена атомизаторов Двойная система коррекции фона Функция микродозирования, в том числе и в пламя Функция автоматического разбавления пробы, выходящей за пределы калибровки01/01/201231/12/2012
546Конфокальный лазерный микроскоп LEICA DM 2500 (Leica, Германия)Ресурсный центр микроскопии и микроанализа-01/01/201231/12/2012
547Атомно-силовой микроскоп — зондовая нанолаборатория INTEGRA-AURA (NT-MDT, Россия)Ресурсный центр микроскопии и микроанализа-01/01/201231/12/2012
548Настольный растровый электронный микроскоп-микроанализатор TM 3000 (HITAСHI, Япония)Ресурсный центр микроскопии и микроанализа-01/01/201231/12/2012
549Рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным отражением (TXRF) Nanohunter производства RIGAKUРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»Определяемые элементы Be-U Количество каналов 40 Рентгеновская трубка Mo, Cu, мощность 0,05 кВт Толщина образца 0,5-5 мм Угол скольжения 0-2°01/01/201231/12/2012
550Система малоуглового рентгеновского рассеяния с генератором на основе вакуумной рентгеновской трубки SAXSess mc² производства ШимадзуРесурсный центр «Методы анализа состава вещества»SAXSess mc² — малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты). Метод SAXS точный, экономичный, не деструктивный и обычно нуждается в минимальной пробоподготовке. Более того, SAXS позволяет исследовать взаимодействия между молекулами в режиме реального времени. Уникальное сочетание современной оптики с коллиматорным блоком высочайшего качества дают на выходе мощный монохроматический первичный пучок сфокусированный за анализируемым образцом, что позволяет быстро измерить профиль рассеяния даже от образцов с низкой контрастностью. Сигнал рассеяния детектируется 2D — чувствительной пластиной, обладающей широким линейным динамическим диапазоном. Широкоугловое расширение для SAXSess позволяет одновременно измерять весь угловой диапазон рассеяния от 0° до 40°, покрывая размеры исследуемых наноструктур от 0.2 нм до 150 нм.01/01/201231/12/2012