| № |
Название |
Местонахождение |
Описание |
Дата выпуска |
Ввод в эксплуатацию ▼ |
|---|
| 151 | Ламинарный шкаф Safe Fast Elite | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | Ламинарный шкаф IIA (70% рециркуляция) ,SafeFAST Elite 212S рабочая поверхность 1194см, УФлампа, подставка (800-900мм), 2 розетки (1 доп вкл), два крана (gas, manual) Iso3, H14 | 31/08/2011 | 31/12/2012 |
| 152 | Климакамера MLR-351H | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | Камера для роста растений MLR-351H, 294 л, контроль освещенности, температуры и влажности в комплекте с емкостями для проращивания | 15/09/2011 | 31/12/2012 |
| 153 | Центрифуга лабораторная Eppendorf 5415R с охлаждением от 0°C до 40°C | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | Центрифуга лабораторная Eppendorf 5415R с охлаждением от 0°C до 40°C (5426 000.018), скорость центрифугирования до 13200 об/мин в комплекте с ротором F-45-24-11 (24х1,5 мл) | 31/08/2011 | 31/12/2012 |
| 154 | Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц SALD-2201 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Диапазон измерения от 0,03 до 1000 микрон. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 155 | СПЕКТРОФОТОМЕТР UV-3600 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Прибор предназначен для регистрации спектров поглощения, пропускания и отражения различных образцов в широкой спектральной области 185-3300 нм. Для обеспечения максимальной чувствительности во всем спектральном диапазоне используются три детектора: ФЭУ, InGaAs и PbS. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 156 | Спектрометр проходящих электронов с трохоидальным монохроматором (Electron Transmission Spectrometer). | Лаборатория электроники поверхности твердого тела | Указанный прибор имеет оригинальную конструкцию [Н.Л. Асфандиаров, С.А. Пшеничнюк, В.С. Фалько, Г.С. Ломакин, Спектрометр проходящих электронов с трохоидальным монохроматором, Приборы и техника эксперимента, № 1 (2013) с. 86-89] и использует трохоидальный монохроматор энергии электронов (Trochoidal Electron Monochromator). Квазимонохроматический пучок электронов пропускается через ячейку столкновений, заполненную газом исследуемого вещества. Для детектирования слабых сигналов, в частности, резонансов с малой полушириной, используется техника синхронного детектирования (регистрация первой производной тока прошедших электронов по их энергии). Полуширина распределение электронов по энергии в зондирующем пучке оценивается величиной 50 мэВ. Шкала энергии электронов калибруется по (1s12s2) 2S состоянию отрицательного иона гелия. | 01/02/2011 | 31/12/2012 |
| 157 | Растровый электронный микроскоп-микроанализатор SEM -501 B (Philips, Нидерланды) со смонтированным на его базе рентгено-спектральным аналитическим комплексом WEDAX-2A (EDAX, MICROSPEC, USA). | Ресурсный центр микроскопии и микроанализа | - | 31/12/2012 | 31/12/2012 |
| 158 | ИК-ФУРЬЕ спектрометр IRAffinity-1 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Спектральный диапазон
7800 - 350 cм -1
Разрешение
0,5; 1; 2; 4; 8; 16 cм -1
Скорость перемещения зеркала
4-х ступенчатая: 2,0 мм/сек; 2,8 мм/сек; 5 мм/сек; 9 мм/сек
Соотношение сигнал/шум
> 30 000:1 (для KRS-5, 4 cм-1 , 1 мин, 2100 cм-1, пик к пику) | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 159 | УВЭЖХ система LC-30 «Nexera» производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Ресурсный центр укомплектован приборами в следующих комплектациях:
1. с тройным квадрупольным масс-селективным детектором LCMS-8030.
2. с детектором диодная матрица SPD-M20A и автодозатором с охлаждением SIL-30AC. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 160 | ВЭЖХ система LC-20 «Prominence» производства Шимадзу. | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Ресурсный центр укомплектован приборами в следующих комплектациях:
1. с кондуктометрическим детектором СDD-10A, фирмы
2. с флюориметрическим детектором RF-20A и низкотемпературным детектором по светорассеиванию ELSD II.
3. с дифференциальным рефрактометрическим детектором RID-10A.
4. с детектором диодная матрица SPD-M20A.
5. со спектрофотометрическим детектором SPD-20A и автодозатором SIL-20A. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 161 | ПЦР-бокс БАВ ПЦР Ламинар-С | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | Бокс для ПЦР-диагностики ("Ламинарные системы"). Габариты (ШхГхВ): 1020х550х745,Настольный бокс, встроенный облучатель рециркуляционный, наклонное закаленное переднее стекло, цельнометаллический корпус с порошковым покрытием, 2 розетки, выдвижной УФО рабочей камеры, подсветка рабочей камеры, плоская несъемная столешница из нержавеющей стали. | 31/08/2011 | 31/12/2012 |
| 162 | Спектрофотометр UV-1800 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Двухлучевой сканирующий спектрофотометр сочетает в себе превосходные оптические характеристики, компактность, простоту управления, экономичность и современный дизайн. | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 163 | Оптический эмиссионный спектрометр ICPE-9000 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | - | 31/12/2012 | 31/12/2012 |
| 164 | Атомно-абсорбционный спектрометр АА-7000 производства Шимадзу | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Спектральный диапазон 185-900 нм.
Трехмерная, двулучевая оптическая схема с использованием цифрового оптического фильтра и элементов, сокращающих потери излучения.
Автоматическая смена атомизаторов
Двойная система коррекции фона
Функция микродозирования, в том числе и в пламя
Функция автоматического разбавления пробы, выходящей за пределы калибровки | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 165 | Климатизированные комнаты с программируемым циклом освещения (4 комнаты на температуры 9-16 градусов цельсия) | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | Климатизированные комнаты для выращивания микроорганизмов. | 31/12/2012 | 31/12/2012 |
| 166 | Амплификатор MJ Mini градиент (PTC-1148) блок 48*0.2 мл | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | ПЦр - амплификатор градиентынй, термоблок на 48 пробирок 200 мкл | 23/07/2011 | 31/12/2012 |
| 167 | Элементный анализатор Euro EA3028-НТ производства EuroVector | Ресурсный центр «Методы анализа состава вещества» | Точность анализа составляет не менее:
0,3% по углероду,
0,2% по азоту и водороду. | 31/12/2012 | 31/12/2012 |
| 168 | Амплификатор С1000 с реакционным модулем 96х0,2 мл | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | ПЦР - амплификатор с реакционным модулем 96х0,2 мл | 31/07/2011 | 31/12/2012 |
| 169 | Оборудование для горизонтального электрофореза нуклеиновых кислот в составе: камера, источник питания, гель-документирующая система, комплектующие | Ресурсный центр «Культивирование микроорганизмов» | Источник питания PowerPack Basic (10-300V), BioRadКамера для горизонтального электрофореза SubCell GT System, 15x15 см с заливочным столиком,
Гель-документирующая система GelDoc XR PLUS,
Конвертер White Light Conversion Screen | 31/08/2011 | 31/12/2012 |
| 170 | Конфокальный лазерный микроскоп LEICA DM 2500 (Leica, Германия) | Ресурсный центр микроскопии и микроанализа | - | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 171 | Атомно-силовой микроскоп — зондовая нанолаборатория INTEGRA-AURA (NT-MDT, Россия) | Ресурсный центр микроскопии и микроанализа | - | 01/01/2012 | 31/12/2012 |
| 172 | Монолитный одночастотный блочный удвоитель MBD 266 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | 266 нм. > 200 мВт, CW. | 10/09/2011 | 30/12/2012 |
| 173 | Лазерный комплекс в составе:
- Mira Optima 900-D (2 шт.);
- Verdi V10 (2 шт.);
- Pulse Switch (2 шт.);
- Mira SPO-I (2 шт.);
- SHG (2 шт.);
- Mira OPO (2 шт.);
- Synchro-Lock AP (1 шт.) | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | Ультрабыстрый фемтосекундный/ пикосекундный лазер Ti:Sapphire.
700-980 нм, <3 пс, <200 фс, 76 МГц, TEM00.
Лазер Nd:АИГ 532 нм, 10 Вт, CW, стабильность по мощности 1 %, шум <0.02.
Акусто-оптический модулятор. 200 Гц - 9 МГц (для фемтосекундной конфигурации), 200 Гц - 4 МГц (для пикосекундной конфигурации), 710-990 нм.
Компрессор. Рабочий диапазон 700-900 нм, 70 фс.
Генератор второй гармоники 340-540 нм.
Оптический параметрический преобразователь, 76 Мгц, 1100-1600 нм.
Синхронизатор.
<250 фс, <250 пс. | 01/09/2011 | 30/12/2012 |
| 174 | Лазер твердотельный с модуляцией добротности Matrix 355 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | 355 нм, 1 Вт, 25 нс, <100 кГц. | 07/08/2011 | 30/12/2012 |
| 175 | Спектрометр КРС исследовательского класса T64000 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | Три монохроматора с фокальным расстоянием 0.64 м. Нижний предел определяемых сдвигов: 2 - 5 см-1 (вычитание дисперсии). Фильтрация рассеянного Релеевского света: 10-14 при 20 см-1 (512 нм). Приставка: Микро-Раман. | 10/02/2011 | 30/12/2012 |
| 176 | Центрифуга 5430R с тремя роторами | 199178, СПб, Васильевский остров, 14ая линия, литер А, группа
структуры и функции клеточного ядра, кафедра цитологии и гистологии | Центрифуги 5430R с функцией охлаждения на 30 мест. Три различных ротора для пробирок объёмом 1,5, 15 и 50 мл, микропланшеты. Возможность центрифугирования всех используемых форматов реакционных сосудов. Высокая скорость центрифугирования до 30.130 x g (17.500 об/мин)
Многоязычное управление посредством меню (английский, немецкий, французский, испанский) и большой ЖК-дисплей с подсветкой для удобства в обращении. Сохранение в памяти более 50 программ с названиями каждой программы
5 клавиш программирования обеспечивают удобный и быстрый доступ к повседневным программам
Автоматическое распознавание ротора с функцией ограничения скорости вращения
Автоматическое распознавание дисбаланса
A-2-MTP Колебательный ротор для плашек микротитрования или ПЦР | 30/12/2011 | 30/12/2012 |
| 177 | Твердотельный импульсный Nd:YAG лазер с ламповой накачкой SpitLight 2000-50 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | 1064 нм, 50 Гц, 8 нс длительность импульса, 1.1 Дж. | 08/10/2011 | 30/12/2012 |
| 178 | Непрерывный одночастотный перестраиваемый лазер на кристалле титан-сапфира MBR-110 с лазером накачки Verdi G5 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | 700-1030 нм, ширина линии <75 кГц.
Лазер накачки с райзером и чиллером. CW. 532 нм, 5Вт. | 01/09/2011 | 30/12/2012 |
| 179 | Автосканируемая лазерная система TiDi-Scan | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | 275-1100 нм. CW.
Лазер Nd:АИГ 532 нм, 10 Вт, CW, стабильность по мощности 1 %, шум <0.02. | 15/10/2011 | 30/12/2012 |
| 180 | Лазер Verdi V2 | Ресурсный центр «Оптические и лазерные методы исследования вещества» | 532 нм, 2 Вт, стабильность по мощности 1 %, шум <0.02. | 01/09/2011 | 30/12/2012 |
| 181 | Спиннер-магнитометр JR-6A | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Чувствительность: 2 x 10-6A/м; Динамический диапазон: до 12500 A/м. | 05/08/2012 | 29/12/2012 |
| 182 | СКВИД-магнитометр SRM-755 | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Чувствительность по магнитному моменту: 5 x 10-12Aм2; Динамический диапазон: от 1 x 10-12 до 2 x 10-4 Aм2; Максимальное размагничивающее поле: 160 мТл; Максимальное поле импульсного намагничивания (для создания изотермической остаточной намагниченности): 1 Тл. | 10/08/2012 | 29/12/2012 |
| 183 | Измеритель мощности сигналов USB мод. ST 265 SMA производства Satory Technology Inc. | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Измерения мощности в диапазоне от -50 до +20 дБм сигналов частот от 10 МГц до 26,5 ГГц. | 05/08/2012 | 29/12/2012 |
| 184 | Установка для размагничивания переменным полем LDA-
3A AF с приставкой для создания идеальной
намагниченности AMU-1А | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Максимальное размагничивающее поле: 1 - 100 мТл; Три различных режима уменьшения размагничивающего поля; Время, необходимое для размагничивания в номинальном поле: не более 2 мин; Создание идеальной намагниченности: Максимальное переменное поле 100 мТл; Постоянное поле: от 0 до 500 мкТл. | 13/05/2012 | 28/12/2012 |
| 185 | Beckman Coulter Inc. ProteomeLabXL-1 | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Аналитическая ультрацентрифуга. Скорость вращения ротора 50 000 об/мин, максимальное ускорение 200 000 g. Точность контроля скорости 20 об/мин. Оптическая система для измерения поглощения в УФ и видимом диапазоне. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 186 | Quadrasorb Sl | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Комплекс для анализа удельной поверхности и размеров пор. Рабочий вакуум 0,13 Па, максимальный вакуум 10-9 torr. Диапазон площади поверхности 0,01 квадратных метров на грамм в случае измерений с азотом, 0,0005 квадратных метров на грамм для измерений с криптоном. Погрешность менее 0,15 от полной шкалы. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 187 | Портативный протонный магнитометр МИНИМАГ-м | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Диапазон измерения модуля магнитной индукции: 20 – 100 мкТл; Нестабильность показаний во времени за 8 часов непрерывной работы: не более 0,2 нТл; Диапазоне рабочих температур: от -20°С до +50°С; Изменение показаний магнитометра в диапазоне рабочих температур: не более 0,5 нТл. | 10/05/2012 | 25/12/2012 |
| 188 | Портативный измеритель магнитного поля Bartington MAG-03 | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Диапазон магнитных полей: ± 100 мкТл; Ошибка смещения: не более 5 нТл; Масштабный коэффициент по магнитному полю: не менее 100 мВ/мкТл; Температурный коэффициент смещения: не более 0,1(нТл/°C); Погрешности ортогональности и ориентирования (Ось Z к стандартной плоскости): не более 0.1 градуса; Частотная характеристика от 0 до 1 кГц максимально плоская, максимальное допустимое отклонение не более 5% при 1 кГц; Диапазон рабочих температур: от -40°C до +70°C. | 24/03/2012 | 25/12/2012 |
| 189 | SNAP RITEC inc. | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Ультразвуковой измерительный комплекс на базе системы SNAP. Двухканальный импульсный источник. Выходная мощность 5 кВт. Диапазон частот 0,25-7 МГц. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 190 | DMA 5000 М Anton Paar | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Лабораторный высокоточный плотномер, объём образца от 1 мл. Точность 5*10-6 г/см3. Диапазон измерений от 0 до 3 г/см3. Температура 0 - 90 С, точность измерения температуры 0,01 градуса. Давление 0 - 10 атм. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 191 | AMVn Anton Paar | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Высокоточный автоматический микровискозиметр, основанный на методе Стокса. Диапазон температур 10 - 100 С. Возможность проведения измерений в непрозрачных жидкостях. Объем образца от 150 мкл. Вязкость от 0,3 до 2500 мПа/c. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 192 | Photocor Complex | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Фотонный корреляционный спектрометр. Установка для измерения динамического и статического рассеяния света в растворах полимеров. Размер частиц: от 0.5 нм до 6 мкм (зависит от оптических характеристик исследуемых образцов). Коэффициент диффузии: 10-5 ... 10-10 см2/с; Молекулярный вес: 103 ... 1012 г/моль. Типичная погрешность ±1%. Объем образца от 10 мкл до 10 мл. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 193 | Аналитические весы XA 52/Y | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Предельная нагрузка: 52 г; Дискретность отсчитывания массы: 10 мкг; Платформа диаметром 85 мм; Класс точности: I. | 05/03/2012 | 25/12/2012 |
| 194 | Photocor Compact-Z | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Прибор для определения размеров и дзета-потенциала частиц, коэффициента диффузии и молукулярного веса методом динамического рассеяния света. Возможность проведения абсолютных измерений без предварительной калибровки. Размер частиц от 0,5 до 6 мкм. Погрешность измерения до 1%. Объем образца от 10 мкл до 10 мл. Термостабилизированный диодный лазер с длиной волны от 630 до 660 нм. Термостат 5-100 С. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 195 | NTEGRA Spectra Raman | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | "Прибор представляет собой комбинацию зондового и спектрального модуля, обеспечивающих одновременную работу применительно к исследуемому образцу и интегрированной системой ближнепольной оптической микроскопии. Прибор оснащен 2 лазерами возбуждения КР с длинами волн видимого диапазона, системой записи спектров КР в видимом диапазоне. Поддерживаемые методики:
1)Конфокальная Рамановская микроскопия
2) TERS (Рамановская микроскопия с АСМ зондом)
2)Конфокальная флюоресцентная микроскопия
3)Конфокальная лазерная микроскопия (отражение, пропускание)
4)Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия
" | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 196 | Установка для нанесения покрытий методом распыления раствора WS-650Mz-23NPP | Ресурсный центр «Центр инновационных технологий композитных наноматериалов» | 1.Камера прибора изготовлена из материала выдерживающего длительное воздействие минеральных кислот, щелочей и спиртов.
2.Возможность обработки образцов размером от 3 мм до пластин диаметром 150 мм (с соответствующими держателями).
3.Максимальная скорость вращения 12000 об/с.
4.Прибор снабжён автоматизированной системой подачи раствора на вращающуюся пластину.
5.Камера снабжена защитной крышкой с датчиком открытия.
6.Питание электрооборудования прибора должно осуществляться напряжением 220 ± 15 В с частотой 50 Гц. | 11/03/2012 | 25/12/2012 |
| 197 | Установка для температурного размагничивания
TD-48-SC | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Температурный диапазон: 25 - 800°C; Абсолютная погрешность по температуре: не более 10°C; Погрешность воспроизведения температуры в последовательных нагревах: не более 1°C; Максимальный температурный градиент: не более 10°C в области размещения образцов при полной загрузке печи, не более 3°C при загрузке образцами лишь центральной части печи; Постоянное магнитное поле в области размещения образцов: не более 10 нТл в случае, если система ориентирована в направлении восток-запад; Время нагрева: 48 образцов от 25°C до 600°C в течение 45 минут; Время охлаждения: 48 образцов от 600 до 40°C в течение 20 минут. | 01/06/2012 | 25/12/2012 |
| 198 | NOVOCONTRAL BDS | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Система анализа диэлектрических свойств материалов широкополосная. Блок ALPHA-ANB: Диапазон частот 3 мкГц - 20 МГц. Фазовое разрешение 0,001 градуса. Активная ячейка ZGS: емкостной диапазон от 1 фемтоФ до 1 Ф, частота до 40 МГц. Импедансный анализатор E4991A с частотным диапазоном от 1 МГц до 3 ГГц, импедансный диапазон от 0,1 Ом до 100 кОм. Температурный диапазон измерений от -160 ºС до 400 ºС. | 01/10/2012 | 25/12/2012 |
| 199 | PPMS-9 + EverCool-II фирмы QUANTUM DESIGNE | 198504 г. Санкт-Петербург, Петродворец, ул. Ульяновская, д. 1, к. 117 корпуса "М" НИИФ СПбГУ | Комплекс измерения физических свойств материалов в широком диапазоне магнитных полей и температур с бескриогенной системой ожижения гелия. В комплекс входят системы для измерения физических величин: а) Намагниченность; б) Магнитная восприимчивость (чувствительность 2·10¯8 э.м.е.); в) Теплоёмкость. Метод измерения - гибридная адиабатическая релаксация, разрешающая способность 10 нДж/К г) Теплопроводность. Диапазон измерений от 10 мкВт/К до 100 мВт/К, погрешность 5 %. д) Коэффициент Зеебека. е) Термоэлектрический показатель качества. ж) Электрическое сопротивление на переменном токе (также измерения коэффициента Холла).Погрешность 0,2 % (0,03 % для сопротивлений меньше 100 Ом). Чувствительность к изменению сопротивления 1 нОм. з) Электрическое сопротивление на постоянном токе. и) Электрическое сопротивление образцов со сверхвысоким сопротивлением - до 5 ГОм.
Напряженность магнитного поля до 9 Тесла. Температура образца 1,9-400 К. | 01/11/2012 | 25/12/2012 |
| 200 | Осциллограф сверхскоростной четырехканальный цифровой TDS 5104B производства Tektronix Inc. | Ресурсный центр «Центр исследования и моделирования геологических и геоэкологических процессов и систем (Геомодель)» | Обеспечивает максимальную скорость дискретизации в режиме реального времени 5 ГГц при полосе пропускания 1 ГГц. Допускает широкий набор типов синхронизации. | 05/08/2012 | 25/12/2012 |
